3360 VLSI測試系統

更新時間：2024-11-10

簡要描述：

3360 VLSI測試系統
主要特色：
?50 MHz 測試頻率
?608 個 I/O 通道
?8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體
?彈性化硬體結構（互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD）
?平行測試可達 32 devices
?Real Parallel Trim/Match 功能

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3360 VLSI測試系統

主要特色：

50 MHz 測試頻率
608 個 I/O 通道
8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
彈性化硬體結構 (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
平行測試可達 32 devices
Real Parallel Trim/Match 功能
直接裝設 SC312, TS670 針測卡
測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K,TS670, ND1)
Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
SCAN test 選配 (512M)
ALPG test 選配供記憶體用
STDF 工具支援
人性化 Windows XP 操作環境
CRAFT C/C++ 程式語言
即時pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display,Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.